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高教实验产品系列
THQBZ-1型 半导体制冷实验仪

产品类别:物理系列(热学)

产品简介

一、概 述

    本仪器采用半导体制冷片(帕尔帖)作为实验对象,可以研究半导体制冷片的制冷特性,并验证帕尔帖效应和塞贝克效应。

二、特 点

    1.半导体制冷片(帕尔帖)作为热泵来演示热泵工作原理,观察制冷片冷端结露、结冰全过程,验证帕尔帖效应;

    2.半导体制冷片(帕尔帖)亦可作为热机来演示热机工作原理,发出稳定直流电,驱动直流电机转动和LED发光,验证塞贝克效应。

三、配置及技术性能

    实验仪由半导体制冷片、带风扇高性能散热器、加热器、温度控制装置、温度测量装置、直流数字电压表、直流数字电流表等组成。

  1. 半导体制冷片:帕尔帖
    (1) 最大温差电流Imax(A):5.0
    (2) 最大温差△Tmax(℃)(QC=OW):67
    (3) 最大工作电压U(V):15.4
    (4) 最大产冷功率Qcmax(W)(△T=0℃):41
    (5) PN结对数:127
    (6) 外形尺寸(L×B×H):40mm×40mm×4.1mm
  2. 带风扇高性能散热器:额定电压:12VDC,额定电流:0.21A±10%。
  3. 加热器: 纯铝,导热性能好,外加防护罩,实验安全可靠。
  4. PID智能温度调节器 测温范围:-20.0~220.0℃,温度显示最小分辨率:0.1℃,测温精度:±0.2℃。具有 PID智能温度控制加AI人工智能调节功能,可控硅调节输出,根据实验要求设定温度控制值。温度控制范围:室温~80℃,控温精度:±0.5℃。
  5. 直流数字电压表:测量范围0~20V,三位半数码显示,精度0.5级。输入阻抗为10MΩ。
  6. 直流数字电流表:测量范围0~10A,三位半数码显示,精度0.5级。

四、实验项目

(一)半导体冷端结冰实验(验证帕尔帖效应)

  1. 半导体制冷片负载特性测试实验
  2. 半导体制冷特性测试实验
  3. 半导体制冷最大制冷系数测试实验
  4. 半导体制冷结露、结冰现象演示实验
  5. 半导体制热特性测试实验

(二)半导体温差发电实验(验证塞贝克效应)

  1. 半导体制冷、发电组合实验
  2. 半导体发电特性测试实验
  3. 卡诺效率测试实验
  4. 半导体发电带负载演示实验
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